A caixa de experimentos abrangente para circuitos digitais e analógicos GLSM-01 é utilizada principalmente para experimentos com circuitos digitais e analógicos em eletrônica. Ela adota uma estrutura modular, com cada módulo independente dos demais. Através da combinação de diferentes componentes em cada área, é possível formar uma variedade de circuitos experimentais. A parte frontal da placa experimental possui um diagrama de circuito impresso, e a parte traseira contém os componentes. Cada ponto a ser testado no circuito experimental possui um furo de teste. É fácil de usar, confiável em termos de contato, durável e de alta eficiência. A unidade experimental principal é complementada por módulos experimentais correspondentes. Módulos de expansão experimental podem ser selecionados de acordo com diferentes necessidades para complementar o conteúdo experimental relacionado, atendendo às necessidades do ensino experimental em cursos.
I. Visão Geral do Equipamento
A caixa de experimentos abrangente para circuitos digitais e analógicos GLSM-01 é utilizada principalmente para experimentos com circuitos digitais e analógicos em eletrônica. Adota uma estrutura modular, com cada módulo independente dos demais. Através da combinação de diferentes componentes em cada área de componentes, é possível formar uma variedade de circuitos experimentais. A parte frontal da placa experimental possui um diagrama de circuito impresso, e a parte traseira contém os componentes. Cada ponto a ser testado no circuito experimental possui um furo de teste. É fácil de usar, confiável no contato, durável e de alta eficiência. A unidade experimental principal é complementada por módulos experimentais correspondentes. Módulos de expansão experimental podem ser selecionados de acordo com diferentes necessidades para complementar o conteúdo experimental relacionado, atendendo às necessidades do ensino experimental em cursos.
II. Configuração do equipamento
1. Fonte de alimentação: Entrada: AC 220V±10%, 50Hz, Saída: DC: +5V, I≥1A, DC: ±12V, I≥0,2A, DC: -5V a -12V ajustável, I≥0,2A, DC: +5V a +27V ajustável, I≥0,2A. Cada saída possui proteção contra sobrecorrente e função de recuperação automática. AC V: 7,5V×2; AC I≥0,15A.
2. Fonte de sinal DC: canal duplo –0,5V a +0,5V; –5V a +5V com ajuste contínuo de duas velocidades.
3. Gerador de funções: frequência de saída: 2Hz a 90kHz, quatro velocidades de saída: onda quadrada (0 a 20V), onda triangular (0 a 15V) e onda senoidal (0 a 10V).
4. 2 conjuntos de circuitos de pulso único manuais (com debounce): cada conjunto pode emitir pulsos positivos e negativos simultaneamente, e a amplitude do pulso é em nível TTL.
5. 10 fontes de pulso de frequência fixa, saída em nível TTL: 1Hz, 10Hz, 100Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz, 500kHz, 1MHz, 5MHz, 10MHz;
6. Display digital de LED: (1) LEDs0 a LED3 consistem em tubos de LED digitais de cátodo comum de 4 dígitos com sete segmentos e decodificadores binário-decimal. (2) LEDs4 a LED5 possuem códigos de segmento de 2 dígitos com sete segmentos (a, b, c, d, e, f, g, h) conectados ao conector através de resistores.
7. Chave de entrada de nível lógico de 12 bits: permite entrada de nível baixo ‘0’ e nível alto ‘1’ (lógica positiva).
8. LED indicador de nível lógico de 12 bits: acende para nível alto ‘1’ e apaga para nível baixo ‘0’.
9. Um conjunto de seletores de código BCD, capaz de gerar quatro conjuntos de sinais digitais em código BCD.
10. Frequencímetro digital de quatro dígitos: faixa de medição de 0 a 1 MHz, utilizado para medir ondas quadradas, triangulares e senoidais.
11. Alto-falante e circuito de acionamento. É um dispositivo gerador de som para relógio, alarme e música.
12. Conjunto de potenciômetros: 1K, 10K, 100K e 1M cada.
13. Área experimental aberta (biblioteca de componentes): fornece 9 soquetes de travamento (3 de 14 pinos, 5 de 16 pinos), um soquete de travamento de 40 pinos e 1 soquete de 8 pinos com furos redondos para CI. Fornece componentes como resistores, capacitores, diodos, triodos e reguladores de tensão de três terminais.
14. Circuito do módulo experimental: (1) Circuito de retificação e filtragem; (2) Circuito regulador de tensão em série; (3) Circuito regulador de tensão ajustável; (4) Amplificador de potência; (5) Circuito amplificador operacional integrado.
15. Todos os conectores de entrada e saída de sinal são banhados a ouro, não oxidam, não descolorem e garantem bom contato.
16. Caixa experimental em liga de alumínio, placa à prova de fogo, robusta e durável, com design elegante e sofisticado.
17. Dimensões: 530 mm × 360 mm × 100 mm.
18. Sistema de aquisição digital:
III. Projetos experimentais desta caixa de experimentos abrangente para circuitos digitais e analógicos
(I) Experimento analógico
1. Práticas comuns de uso de instrumentos eletrônicos: utilize um multímetro para testar os parâmetros de diodos e transistores
2. Circuito amplificador de estágio único
3. Circuito amplificador de dois estágios
4. Circuito amplificador com realimentação negativa
5. Seguidor de emissor
6. Circuito amplificador diferencial
7. Teste de parâmetros de amplificador operacional integrado
8. Circuito de operação proporcional-somador
9. Circuito integral-derivativo
10. Circuito gerador de forma de onda
11. Filtro ativo
12. Comparador de tensão
13. Oscilador senoidal RC integrado
14. Amplificador de potência integrado
15. Circuito de filtro retificador e regulador de tensão paralelo
16. Circuito regulador de tensão em série
17. Regulador de tensão integrado
18. Oscilador senoidal RC
19. Oscilador LC e amplificador de seleção de frequência
20. Conversão corrente/tensão Circuito
21. Circuito de conversão tensão/frequência
22. Amplificador de potência simétrico complementar
23. Circuito de conversão de forma de onda
24. Experimento com tubo de efeito de campo
25. Experimento abrangente com circuito SCR
26. Projeto e depuração de multímetro composto por amplificador operacional.
(II) Experimento de eletrônica digital
1. Experimento de funcionamento e teste de circuitos lógicos com portas lógicas
2. Experimento de circuitos lógicos combinacionais (meio somador, somador completo e operações lógicas)
3. Experimento de disparo (I) R-S, D, JK
4. Experimento de disparo (II) Disparo de saída de três estados, latch
5. Teste e pesquisa de circuitos de temporização
6. Experimento de contador e registrador integrados
7. Experimento de decodificador e seletor de dados
8. Experimento de gerador de forma de onda e disparo monoestável
9. Experimento de circuito de base de tempo 555
Experimentos opcionais incluem os seguintes:
10. Experimento de características de chaveamento de transistores, limitador e clamp
11. Experimento de teste de parâmetros de circuitos com portas lógicas TTL
12. Experimento de teste de circuitos com portas lógicas CMOS
13. Experimento de circuito de conversão analógico-digital (A/D)
14. Experimento de circuito de conversão digital-analógica (D/A)
15. Experimento de aplicação de circuitos de temporização
16. Experimento de circuito de decisão de prioridade de quatro vias
17. Respostas do questionário experimento de máquina